Rasterelektronenmikroskop
Ein Rasterelektronenmikroskop (Abk. REM), im engl. als scanning electron microscope (Abk. SEM) bezeichnet, ist ein spezielles Elektronenmikroskop. Beim REM wird die zu untersuchende Probe rasterförmig mit Elektronen beschossen. Die dabei freigesetzten Elektronen der Probe (sog. sekundäre Elektronen, Abk. SE) werden von einem Detektor aufgefangen und in eine Bild umgewandelt, dass man auf einem Monitor anschauen kann. [Weiterlesen ...]
"Rasterelektronenmikroskop"
(Bildquelle)
Als Rasterelektronenmikroskop (REM) (englisch scanning electron microscope, SEM) bezeichnet man ein Elektronenmikroskop, bei dem ein Elektronenstrahl in einem bestimmten Muster über das vergrößert abzubildende Objekt geführt (gerastert) wird und Wechselwirkungen der Elektronen mit dem Objekt zur Erzeugung eines Bildes des Objekts genutzt werden. Die typischerweise mit einem Rasterelektronenmikroskop erzeugten Bilder sind Abbildungen der Objektoberflächen und weisen eine hohe Schärfentiefe auf. Eine rasternde Abbildung lässt sich auch in Transmission durchführen (engl. scanning transmission electron microscopy, STEM), hierfür sind entsprechend ausgerüstete Transmissionselektronenmikroskope oder dedizierte Rastertransmissionselektronenmikroskope nötig.