Rasterelektronenmikroskop

Ein Rasterelektronenmikroskop (Abk. REM), im engl. als scanning electron microscope (Abk. SEM) bezeichnet, ist ein spezielles Elektronenmikroskop. Beim REM wird die zu untersuchende Probe rasterförmig mit Elektronen beschossen. Die dabei freigesetzten Elektronen der Probe (sog. sekundäre Elektronen, Abk. SE) werden von einem Detektor aufgefangen und in eine Bild umgewandelt, dass man auf einem Monitor anschauen kann. [Weiterlesen ...]

Rasterelektronenmikroskop
"Rasterelektronenmikroskop" (Bildquelle)

Kategorie: Optik

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